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影響涂層測厚儀監(jiān)測的誤差有哪些

a基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

b基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

d基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

e曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差每次測量時在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

h磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

i附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感因此必須清除附著物質(zhì)以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

j測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)因此要保持壓力恒定。

k測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

這就是影響涂層測厚儀的一些因素。

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